平板探測器

XRD 0822 AP X射線數字平板探測器是基于8英寸非晶硅傳感器的二維光電二極管陣列，具有200微米像素尺寸，成像區域200mm*200mm，X射線通過閃爍屏轉換為光電子并被光電二極管轉化為數字信號，16位數字化信息可實現高動態范圍及對比度，使檢測圖像邊界輪廓清晰、質量媲美膠片。

XRD 0822 AP X射線數字平板探測器具有檢測速度快(非像素合并時幀速可達25fps)、可接收320kV的X射線直接照射等特點，被廣泛應用于工業領域X射線檢測。

技術參數

● 面板         轉換屏          DRZ-PLUS

像素數目        1024×1024

像素間距        200µm

動態范圍        ≥88db

灰度等級        65536(16bit)

幀速度          25fps @200µm

50fps @400µm

能量范圍        20～450Kev

● 電子設備     電荷放大器      8×128通道ASIC

增益調節      0.25/0.5/1/2/4/8pF共6級可設置

ADC轉換      16bit

非線性            ≤1%